数据来源与置信度
本站不复制任何商业材料数据库。所有数值均来自可公开获取的国家标准、公开出版物与厂商 datasheet，并逐条登记出处。
置信度分级
A
A 级 · 可信度高
已与标准/手册原文逐字核对。
B
B 级 · 较可信
转引自多个公开渠道且内容一致，尚未与原文逐字核对。
C
C 级 · 可参考
公开数据库或已发表论文，口径需自行判断。
D
D 级 · 仅参考
厂商资料或工程经验整理，未经标准核对。
E
E 级 · 存疑
来源存在冲突或无法确认，慎用。
F
F 级 · 通用假设
非该材料的试验数据，仅为行业通用假设。
来源清单（筛出 1 / 共 540）
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| 引用编号 | 类型 | 标题 / 条款 | 出处 | 年份 | 置信 | 判定理由 | 备注 |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| STREETMAN#BANDGAP | 手册 | Streetman & Banerjee《Solid State Electronic Devices》5th ed. p.524 / S.M. Sze《Physics of Semiconductor Devices》pp.848-849 禁带宽度表 | Prentice Hall / Wiley-Interscience http://hyperphysics.gsu.edu/hbase/solids/ban… | — | B | 公开表转录，未购得标准/手册原版逐格核对 | 300 K 块体禁带宽度（eV），经 chemeurope / HyperPhysics / MTI Korea 公开表交叉 |