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WCu-75

钨铜复合材料 75W
钨及钨合金钨铜复合材料
数据完整度
72

W 与 Cu 的伪合金,兼具钨的高熔点/抗烧蚀与铜的高导电导热。用于电触头、电阻焊电极与电子封装热沉。

典型用途
电触头 电阻焊电极 热沉 引线框架
英文名
75W-25Cu Composite

按已录入性能数据的属性指纹计算,仅供初筛

怎么读数值:≥ / ≤标准保证值,可当验收依据典型值手册 / 厂商常见值,仅供参考置信度 A–FA 已核原文 · D 手册值 · F 公认常数

关键性能速览

取默认状态下的最优口径;带 ≥ / ≤ 的是标准保证值,其余为典型值或实测值
熔点
—
密度 ρ
16.7g/cm³C
弹性模量 E
250GPaC
抗拉强度 Rm
300MPaC
导热系数 k
200W/(m·K)C
线膨胀系数 α
7×10⁻⁶/KC

热处理状态与交货状态

S熔渗/压制烧结态
工艺
常压烧结

力学性能

弹性模量 E250GPa
20℃
250GPa典型值CAISI-HB#GEN
室温弹性模量
泊松比 ν0.3
20℃
0.3通用假设D不建议用于设计AISI-HB#GEN
工程通用假设值
屈服强度 Re250MPa
20℃
250MPa典型值CAISI-HB#GEN
屈服强度 Rp0.2(典型值)
抗拉强度 Rm300MPa
20℃
300MPa典型值CAISI-HB#GEN
抗拉强度(横向断裂强度换算值,典型)
断后伸长率 A5%
20℃·标距 A50
5%典型值CAISI-HB#GEN
断后伸长率(典型值)
硬度220HBW
20℃
220HBW典型值CAISI-HB#GEN
布氏硬度(典型值)

物理性能

密度 ρ16.7g/cm³
20℃
16.7g/cm³典型值CAISI-HB#GEN
室温密度(按 75W-25Cu 加权)

热性能

导热系数 k200W/(m·K)
20℃
200W/(m·K)典型值CAISI-HB#GEN
室温导热系数
线膨胀系数 α7×10⁻⁶/K
20~100℃
7×10⁻⁶/K典型值CAISI-HB#GEN
20~100℃ 平均线膨胀系数

电性能

电阻率 ρe5μΩ·cm
20℃
5μΩ·cm典型值CAISI-HB#GEN
电阻率(20℃,近铜)

化学成分(熔炼分析)

含量单位为质量分数 %

元素最小 %最大 %典型 %类型置信备注
Cu25%25%—规定元素CCu 余量(名义)
W75%75%—规定元素CW 70~80%(名义 75W)

工艺适用性

「适用」= 常规设备即可做;「受限」= 能做但需附加条件;「不宜」= 技术上可行但不推荐;「不涉及」= 该工艺对本类材料不成立,收起在下方。

共 7 项工艺适用4受限3
热等静压(HIP)烧结与固结受限
工艺参数
1000~1200℃ / 100~200 MPa,须低于铜的渗出温度
预期效果
进一步消除残余孔隙,提高致密度与导热
限制
★ 压力过高会把铜从骨架中挤出,反而破坏铜网络连续性
置信
D
熔渗烧结与固结适用
工艺参数
压制钨骨架 → 氢气或真空预烧 1200~1400℃(相对密度 60~75%)→ 高于铜熔点渗铜 1150~1300℃,保温 10~60 min
预期效果
铜液相靠毛细作用填满骨架孔隙,形成钨铜互穿网络,致密度可达 98% 以上
限制
★ 钨铜互不固溶、密度差近 4 倍,不能熔炼铸锭(必偏析);成品铜含量由骨架孔隙率决定,事后无法调整
置信
D
常压烧结烧结与固结受限
工艺参数
钨铜混合粉直接液相烧结 1300~1400℃,须控制铜的渗出与均匀分布
预期效果
一步成形,省去骨架预烧工序
限制
★ 铜易在压制与烧结初期渗出,铜分布均匀性不如熔渗法;高铜含量(>30%)优先熔渗
置信
D
退火热处理受限
工艺参数
真空或氢气 700~950℃,必须低于铜的熔渗温度
预期效果
消除加工应力、稳定尺寸
限制
★ 温度接近铜熔点会使铜重新渗出或聚集,导致成分与导热不均
置信
D
磨削切削加工适用
工艺参数
金刚石砂轮、湿磨,小切深
预期效果
获得精密平面与镜面,用于触头接触面
限制
★ 磨屑含钨铜,回收价值高;干磨积尘有燃烧风险
置信
D
切削加工切削加工适用
工艺参数
硬质合金或金刚石涂层刀具,中低速、充分冷却;铜相易粘刀
预期效果
可加工成电触头、散热基板、电极形状
限制
★ 钨与铜的切削性差异大,刃口易产生选择性磨损;精密面建议磨削而非车削
置信
D
电镀表面处理适用
工艺参数
触头部位镀镍打底 + 镀银,镀层 1~5 μm
预期效果
降低接触电阻、抑制铜的氧化与电弧烧蚀
限制
★ 镀前须彻底去除表面游离铜,否则镀层结合力差、易起泡
置信
D
告诉我们错在哪 —— 带上出处就能改
WCu-75 钨铜复合材料 75W — 性能、成分与工艺 · EngMatData